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OCT顯微檢測儀

節律光譜照度頻閃儀FD-SIT-LS

節律光譜照度計FD-SIT-LS-401

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雙通道EDI照度計FD-SIT-LS-20

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照度頻閃儀FD-SIT-LS-102

OCT顯微檢測儀
時間:2023-03-08 12:09因素:訊技光電創作者: 技術部超鏈接:次打印
技術原理
 
光學低相干層析(Optical Coherence Tomography,簡稱 OCT)是 20 世紀 90 年代初發展起來的低損、高分辨、非侵入式的醫學、成像技術。它的原理類似于超聲成像,不同之處是它利用的是光,而不是聲音。
 
通過使用寬帶波長光源和光譜儀,設備可以捕獲圖像根據光的波長通過干涉光譜分析。OCT能夠提供表面輪廓以及有關地下結構和統一性使其能夠實時提供準確的信息,以進行診斷,監控,和原位過程反饋。
 
 
適用范圍
• 透明或者半透明膜層內部結構的厚度、瑕疵及損壞檢測
• 如電氣行業的三防漆,手機3D屏,透明樹脂涂層,柔性OLED等多行業
 
主要特性
• 實時 ——可實時反饋處理生產線缺陷產品
• 高效 ——秒級檢測速度
• 無損 ——非接觸式、勿需破壞樣品
• 精度高 ——微米級成像精度
• 自動化 ——可取代人工檢測,降低運營成本
 

 
設備參數表
 
 
應用領域
 

 
案例展示
1. 三防漆檢測(Conformal coating)
電路板上20~300μm薄膜,保護電路板免受環境的侵蝕而導致線路板失效。
典型質量問題:
 厚度不均勻;
 氣泡和分層;
 固化不均勻。
   

 
實時、在線、無損、快速的檢測手段--行業空白
 
2. OCT技術與金相切片對比
 
 
在芯片封裝中往往會有可能出現Resin的填充不良問題,其樹脂或者陶瓷填充材料可以被OCT技術透穿進行光學檢測
 
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